TEM

型 号 H-800

国别厂家 日本 Hitachi

购置日期 1987年

金 额 78.40万

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技术指标

1. 分辨率：可倾动角±25°时，晶格分辨0.204 nm，点间距0.45 nm；

2. 放大倍数：电子图象：1000～6×10⁵(30档可调)，选区图象：1000～3×10⁵(25档可调)；

3. 加速电压：200 kV、175kV、150kV、100kV、75kV。

主要用途

1. 分析金属材料的晶体缺陷、晶界、相界等微结构；

2. 分析高分子材料及其复合材料的形态结构；

3. 微粒形状观察及其尺寸分析；

4. 染色体、核糖体、蛋白质、血红蛋白、细菌等的形状观察。

主要配置 SEM探测器，STEM探测器，真空镀膜仪，超薄切片机。

使用部门 分析测试中心

存放地址 延安路校区教研大楼110

联 系 人 闫捷