扫描探针显微镜

SPM 

型 号 NanoScope IV

国别厂家 美国Veeco

购置日期 2003年

金 额 151.66万

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技术指标

1.最大平面扫描范围：125 μm × 125 μm；

2.最大垂直扫描范围：2.5 μm；

3.最高水平分辨率：0.1 nm；

4.最高垂直分辨率：0.01 nm。

　

主要用途

1.材料表面形貌、相组成分析；

2.材料表面各种缺陷、污染情况分析；

3.材料表面力性能研究；

4.材料表面电、磁性能研究。

　

主要配置 接触模式、轻敲模式；静电力模式、磁力模式、扫描隧道模式、摩擦力模式；配有液体样品池，可用于分析液体环境中的样品；加热台，控温范围：室温～250℃。

　

使用部门 分析测试中心

存放地址 松江校区5号学院楼B324

联 系 人 路平