设备名称

场发射扫描电镜

型号

英文

Field Emission Scanning Electron Microscope

S－4800

国别厂家

日本 HITACHI

购置日期

2008.6

设备照片

技术指标

1. 分辨率：1.0nm (15KV); 2.0nm (1KV); 1.4 nm (1KV, 减速模式)。

2. 加速电压：0.5～30 kV

3. 样品最大尺寸：直径100mm

4. 能谱能量分辨率：129 eV

主要用途

1. 观察块状固体材料、纤维、薄膜的表面或断面形貌；

2. 微粒形状的观察及尺寸分析；

3. 微区元素分析。

主要附件

X－射线能谱仪。

使用部门

分析测试中心

松江校区五号学院楼B123室

设备管理人

王玉林

67792818

E-mail

wyl@dhu.edu.cn