扫描电子显微镜—能谱仪
SEM-EDS
型 号 SEM:JSM-5600LV; EDS:IE 300 X
国别厂家 SEM:日本JEOL;EDS:英国Oxford
购置日期 SEM:2001年 EDS:2005年
金 额 157.31万
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技术指标
1.SEM:高真空分辨率3.5nm,低真空分辨率4.5nm;
2. SEM: 放大倍数范围18~300,000;
3. EDS:Mn的Kα处的分辨率优于132eV;可测元素范围4Be~92U。
主要用途
1.固体样品表面微区形貌观察;
2.材料断口形貌及其内部结构分析;
3.微粒或纤维形状观察及其尺寸分析;
4.固体样品表面微区成分的定性和半定量分析。
主要配置
SEM:二次电子探测器,背散射电子探测器;
EDS:Si(Li)超薄窗;X射线探测器,全数字化脉冲处理器;喷金仪,喷碳仪。
使用部门 分析测试中心
存放地址 松江校区5号学院楼B122
联 系 人 王文强