扫描探针显微镜
SPM
型 号 NanoScope IV
国别厂家 美国Veeco
购置日期 2003年
金 额 151.66万
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技术指标
1.最大平面扫描范围:125 μm × 125 μm;
2.最大垂直扫描范围:2.5 μm;
3.最高水平分辨率:0.1 nm;
4.最高垂直分辨率:0.01 nm。
主要用途
1.材料表面形貌、相组成分析;
2.材料表面各种缺陷、污染情况分析;
3.材料表面力性能研究;
4.材料表面电、磁性能研究。
主要配置 接触模式、轻敲模式;静电力模式、磁力模式、扫描隧道模式、摩擦力模式;配有液体样品池,可用于分析液体环境中的样品;加热台,控温范围:室温~250℃。
使用部门 分析测试中心
存放地址 松江校区5号学院楼B324
联 系 人 路平