设备名称 | 中文 | 场发射扫描电镜 | 型号 | ||
英文 | Field Emission Scanning Electron Microscope | S-4800 | |||
国别厂家 | 日本 HITACHI | 购置日期 | 2008.6 | ||
设备照片 | |||||
技术指标
| 1. 分辨率:1.0nm (15KV); 2.0nm (1KV); 1.4 nm (1KV, 减速模式)。 2. 加速电压:0.5~30 kV 3. 样品最大尺寸:直径100mm 4. 能谱能量分辨率:129 eV | ||||
主要用途 |
1. 观察块状固体材料、纤维、薄膜的表面或断面形貌; 2. 微粒形状的观察及尺寸分析; 3. 微区元素分析。
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主要附件
| X-射线能谱仪。 | ||||
使用部门 | 分析测试中心 | 存放地点 | 松江校区五号学院楼B123室 | ||
设备管理人 | 王玉林 | 联系电话 | 67792818 | ||
| wyl@dhu.edu.cn |