名称：场发射透射电镜

型号：JEM-2100F

国别：日本

厂家：JEOL LTD

购置日期：2009年

金额：711.71万元

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技术指标

加速电压: 80～200 kV；放大倍数: 50～1,500,000；点分辨率: 0.23 nm，晶格分辨率: 0.14 nm；

主要用途

分析金属材料的晶体缺陷、晶界、相界等微结构；

分析高分子材料及其复合材料的形态结构；

微粒形状观察及其尺寸分析；

染色体、核糖体、蛋白质、血红蛋白、细菌等的形状观察。

主要配置

Gatan 994 CCD相机，Leica EM UC7超薄切片机，单倾样品杆，双倾样品杆，Gatan 677多样品杆

使用部门：分析测试中心

存放地址：五号学院楼B119

联系人：阎捷

联系方式：62373748/67792047